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熱処理前変形によるNb$$_{3}$$Sn素線のIcの劣化

Degradation of critical current on Nb$$_{3}$$Sn strands with deformation before heat treatment

諏訪 友音; 名原 啓博; 布谷 嘉彦; 高橋 良和; 押切 雅幸; 堤 史明; 渋谷 和幸*; 村上 幸伸*; 宮下 克己*; Sim, K.-H.*; Kwon, S. P.*

Suwa, Tomone; Nabara, Yoshihiro; Nunoya, Yoshihiko; Takahashi, Yoshikazu; Oshikiri, Masayuki; Tsutsumi, Fumiaki; Shibutani, Kazuyuki*; Murakami, Yukinobu*; Miyashita, Katsumi*; Sim, K.-H.*; Kwon, S. P.*

超伝導撚線のツイストピッチを短くすることで、ITER用CS(中心ソレノイド)導体における分流開始温度(Tcs)は電磁力サイクルに対して劣化しないことがわかっている。しかし、ツイストピッチの短い撚線を作る際に、Nb$$_{3}$$Sn素線同士の接触個所に強い力が働くことで圧痕ができ、素線の断面が変形する。そこで、熱処理前のNb$$_{3}$$Sn素線に圧痕を加えて、圧痕がIcに与える影響を調べた。その結果、ブロンズ法と内部拡散法のITER用Nb$$_{3}$$Sn素線において、それぞれ0.2mm、0.3mm潰れてもIcは変化しないことがわかり、撚線製作の指針を得ることができた。

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