JT-60Uにおけるディスラプション直前のMHD不安定性が熱クエンチ後の電子温度分布に与える影響

Influence of MHD instability just before disruption on the electron temperature profile after the thermal quench in JT-60U

柴田 欣秀; 松永 剛; 榊原 悟*; 河野 康則; 諫山 明彦; 渡邊 清政

Shibata, Yoshihide; Matsunaga, Go; Sakakibara, Satoru*; Kawano, Yasunori; Isayama, Akihiko; Watanabe, Kiyomasa

トカマク装置ではディスラプション発生時に装置に損傷を与える可能性があるため、緩和・回避法の研究が行われている。発表者らはこれまでの研究で、電流減衰初期の電子温度分布の変化がディスラプション時のプラズマ電流の減衰に影響を与えていることを見いだし、電子温度分布を制御することでディスラプションが緩和できる可能性を示した。ディスラプション中に形成される電子温度分布の機構は明らかになっていないが、直前に発生するMHD不安定性がそれらの決定に関連している可能性が高い。そこで、本研究ではディスラプションの発生原因となっているMHD不安定性がディスラプション中の電子温度分布形成にどのような影響を与えているのかをJT-60Uで発生したディスラプション放電を対象に解析し、調査した結果を報告する。

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