中性子反射法

Neutron reflectometry

山崎 大  

Yamazaki, Dai

中性子反射率法は、物質界面や薄膜の深さ方向の密度分布の観測に有力な手段である。同位体(重水素ラベル法)や磁気を識別できる中性子の特徴を利用して、ソフトマターの界面・薄膜構造から磁性薄膜の磁気構造まで様々な物質・材料界面の構造観察に幅広く適用できる。本発表では、反射率法の原理から応用事例まで解説し、加えてJ-PARCで稼働中の偏極中性子反射率計「写楽」(BL17)の現状について紹介する。

Neutron reflectometry is essential to study surface structures in depth and applicable to wide range of surfaces including softmatter interfaces and magnetic thin films. This presentation describes the principle and some applications of neutron reflectometry and introduces the polarized neutron reflectometer "Sharaku" (BL17) of J-PARC/MLF.