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Measurement of noble gas impurities in xenon dark matter detectors using resonance ionization mass spectrometry

レーザー共鳴イオン化質量分析法を用いたXe暗黒物質検出器中の希ガス不純物測定

岩田 圭弘   ; 関谷 洋之*; 伊藤 主税   

Iwata, Yoshihiro; Sekiya, Hiroyuki*; Ito, Chikara

レーザー共鳴イオン化質量分析法をベースとした高速炉用タギング法破損燃料位置検出(FFDL)システムを実用化する上で、クリプトン及びキセノン共鳴イオン化用レーザーの安定性及び操作性向上が必要不可欠である。レーザーシステムの安定化に関連した研究として、東京大学宇宙線研究所と共同でキセノンガスに含まれる(1)クリプトン及び(2)ラドン不純物測定に関する研究を行っている。発表では、(1)クリプトン測定について純アルゴンガスに濃度0.4ppt程度含まれる不純物クリプトン検出、及びキセノン中クリプトン分析に対する適用性の詳細を説明し、(2)ラドン測定について共鳴四波混合を用いた波長145.2nm真空紫外光生成、及び空気中ラドン測定の進捗状況を説明する。

no abstracts in English

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