炭素イオンビーム照射によるDNA損傷のLET依存性

LET dependency of DNA damage induced by carbon-ion beam irradiation

Matsuo, Yoichiro*; Izumi, Yoshinobu*; Hase, Yoshihiro; Sakamoto, Ayako; Shimizu, Kikuo*

本研究はポリメラーゼ連鎖反応におけるDNAの伸長阻害に基づいて鋳型DNAに存在するDNA損傷の定量を試みたものである。出芽酵母S288cのURA3遺伝子領域を増幅したDNAを試料とし、炭素イオン及び線を照射した。線量の増加に伴ってポリメラーゼ連鎖反応によるDNA合成効率の低下が認められた。同一線量において、炭素イオンビームは線に比べて、合成効率の低下が顕著であり、塩基損傷または鎖切断がより多く生じていることが示唆された。

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発表言語	:	Japanese
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発表会議名	:	第10回高崎量子応用研究シンポジウム
開催年月	:	2015/10
開催都市	:	高崎
開催国	:	日本
キーワード	:	no keyword

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使用施設	:	TIARA(イオン照射研究施設)
広報プレスリリース	:
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受委託・共同研究相手機関	:	大阪大学; 福井大学

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登録番号 : BB20151969
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