イメージングXAFSによる異種元素間の化学的相関分析

Chemical correlation analysis of two elements in the material probed by imaging XAFS technique

岡本 芳浩  ; 塩飽 秀啓   

Okamoto, Yoshihiro; Shiwaku, Hideaki

2次元検出器を利用したイメージングXAFSを拡張して、物質中の2元素間の化学的相関の解析を試みた。イメージングXAFSでは、取得されるXAFSデータに試料中の位置情報が備わっているので、特徴ある分布領域のスペクトルを選択的に抽出することができる。本研究では、これを利用した解析手法について、測定例を使って紹介する。

The chemical correlation between two elements in the material was tried to analyze using extension of the imaging XAFS technique. Since the imaging XAFS spectrum contains information on position in the material, XAFS data corresponding to the specific domain in the material can be selectively obtained in the analysis. In the presentation, this new imaging XAFS analytical technique is introduced together with some examples.