直線偏光のX線と紫外光の励起源を用いた光電子顕微鏡による有機半導体の分子配向解析

Analysis of molecular orientation for organic semiconductor using photo electron emission microscope with excitation sources of linear-polarized X-rays and ultraviolet light

関口 哲弘  ; 本田 充紀   ; 平尾 法恵; 池浦 広美*

Sekiguchi, Tetsuhiro; Honda, Mitsunori; Hirao, Norie; Ikeura, Hiromi*

将来におけるアクチノイド重金属元素の選択的吸着分子材料の開発において、吸着材分子と重金属元素の空間的な分布を観測することは重要である。そこで放射光X線と光電子顕微鏡を用いた元素選択的な材料評価分析手法の開発研究を進めている。今回試料として有機ポリマー材料を用い、放射光励起のよる元素マッピング測定を行った。また放射光の直線偏光と励起エネルギー依存性測定から分子鎖方向を評価した。さらに光電子顕微鏡の光源として放射光X線と高圧水銀ランプ(UV)の結果を比較した。放射光によるX線励起エネルギー依存性の測定から吸着材料の微小領域における構造情報が得られると期待される。

High degrees of molecular orientation play a crucial role in the improvement of electronic properties in organic semiconductors. Thus, it is essential to selectively characterize materials with different orientation direction in microscopic domains. So far, we have strived to observe orientation of organic-semiconductors in microscopic domains using the photoelectron emission microscopy (PEEM) system with excitation by linearly polarized ultraviolet (UV) light from mercury lamp and synchrotron X-rays.