J-PARCの中性子反射率測定

Neutron reflectometry at Japan Proton Accelerator Research Complex (J-PARC)

武田 全康  

Takeda, Masayasu

X線や中性子をプローブとする反射率法は、表面は言うまでもなく界面のナノ構造をも非破壊的に知ることのできる唯一の実験手法である。特に中性子は、X線に比較して物質に対する透過力が非常に大きく、物質中に深く埋もれた界面にも容易に達する。また、X線が苦手とする軽元素に対する感度も大きく、さらに、周期律表で隣り合う元素の識別能力を持つため、中性子反射率計は、金属、高分子、生物と測定対象を問わない理想的な表面・界面ナノ構造の研究手段である。国内では、つくばの高エネルギー加速器研究機構にあったパルス中性子源(KENS)や、茨城県東海村に日本原子力研究開発機構(JAEA)が所有する定常中性子源(研究用原子炉JRR-3)において、中性子反射率計による研究が行われてきた。しかし、JRR-3と同じ東海村のJAEAの敷地内の物質・生命科学実験施設で、世界最高強度を誇るパルス中性子源が平成20年より稼働し始め、そこにも2台の中性子反射率計が設置されたことにより、国内の中性子反射率計による研究環境が大きく変わっている。発表では中性子反射率法の原理の紹介と実際に行われた実験例を交えながら、MLFに設置された2台の中性子反射率計の概要について紹介したい。

no abstracts in English