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断層運動が石英の水和層厚さに及ぼす影響; SIMSによる分析

Influence of fault activity to hydration thickness of quartz; Application of SIMS analysis

丹羽 正和   ; 島田 耕史   

Niwa, Masakazu; Shimada, Koji

上載地層法が適用できない場合における、破砕帯の物質科学的解析に基づく断層の活動性評価手法の開発の一環として、断層面の石英の水和層の厚さを推定するため、二次イオン質量分析装置(SIMS)による水素イオン濃度の測定を試みた。その結果、断層面の石英の水和層厚さの分析に対しても、考古学分野における黒曜石の水和層の厚さの分析と同様に、SIMS分析が適用できる見通しが得られた。これにより、断層面の石英の水和層の発達の程度に基づき、断層の活動性を評価する手法を検討する道が開けた。

In this study, we examined the relationship between development of quartz hydration and fault activity using secondary ion mass spectrometry (SIMS) analysis. This study shows that the SIMS analysis could be applicable for the estimation of hydration thickness of quartz along faults as well as the measurement of obsidian hydration thickness. The tests for still more samples should be further studies to examine geochronological application for fault activity.

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