Meigo, Shinichiro; Matsuda, Hiroki; Takei, Hayanori
J-PARCセンターの核破砕中性子源(JSNS)やJ-PARCセンターで進めている核変換実験施設では、標的に入射する大強度陽子ビームの形状を測定するために、発光型のプロファイルモニタの開発を行っている。このため、量子科学技術研究開発機構の高崎量子応用研究所のTIARA施設において、アルミナ発光型のプロファイルモニタの試験をArビーム(エネルギ150MeV)を用いて行った。実際の使用が予定される耐放射線性型のファイバイメージスコープを用いてビーム形状を測定したところ、明瞭な形状が得られることが確認された。さらに、発光体のビームに起因する発光量の劣化をスペクトロメータを用いて測定した。その結果、700nmより長波長領域では2.5時間程度の照射時間で20%程度の発効劣化が観測された。一方、700nmより短波長領域では著しい劣化が無いことが確認されたため、測定する波長を選択することにより劣化の影響を防げることがわかった。本発表ではまた、JSNSで用いているプロファイルモニタの現状について報告を行う。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | Proceedings of 6th International Beam Instrumentation Conference (IBIC 2017) (Internet) |
巻 |
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号 |
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ページ数 |
: | p.373 - 376 |
発行年月 |
: | 2018/03 |
発表会議名 |
: | 6th International Beam Instrumentation Conference (IBIC 2017) |
開催年月 |
: | 2017/08 |
開催都市 |
: | Grand Rapids |
開催国 |
: | U.S.A. |
キーワード |
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論文URL |
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使用施設 |
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論文解説記事 |
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Access |
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Altmetrics |
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