ガラス固化技術高度化のための放射光XAFS研究

Synchrotron radiation based XAFS research for advancement of the vitrification technology

岡本 芳浩  ; 永井 崇之  ; 小林 秀和 ; 塩飽 秀啓   ; 菖蒲 康夫

Okamoto, Yoshihiro; Nagai, Takayuki; Kobayashi, Hidekazu; Shiwaku, Hideaki; Ayame, Yasuo

ガラス固化試料の分析において、高い元素選択性および低濃度への柔軟な適応性から放射光XAFS分析法が広く用いられている。我々は、様々なガラス固化試料のXAFS分析を実施してきた。ガラス固化体中に、多数の元素が含まれているので、XAFSの利用は、非常に効果的である。一方で、均一に分布していない元素(たとえば白金族元素)もあることから、イメージングXAFSを適用して対応している。本発表では、ガラス固化技術の高度化のために実施した、これまでの放射光XAFSとイメージングXAFSにより判明してきた知見をまとめて報告する。

The synchrotron radiation based XAFS technique, in which atomic element selectivity and adaptation to a diluted component can be achieved, has been used widely for research work on the nuclear waste vitrification technology. We have used the XAFS technique for many kinds of simulated glass samples. The use of XAFS technique is very effective since many kinds of elements are contained in the nuclear waste glass. In addition, imaging XAFS technique was introduced, since some elements such as platinum group metals in the glass are not distributed uniformly. In this presentation, we summarize some results obtained from the XAFS and imaging XAFS analyses we have performed for advancement of the vitrification technology.