深谷 有喜 
; 河裾 厚男*; 一宮 彪彦*; 兵頭 俊夫*
Fukaya, Yuki; Kawasuso, Atsuo*; Ichimiya, Ayahiko*; Hyodo, Toshio*
最近、物質の表面構造を調べることを目的に、全反射高速陽電子回折(TRHEPD)法を開発した。TRHEPD法は反射高速電子回折(RHEED)の陽電子版である。入射する視射角に依存して、陽電子は物質表面で全反射もしくは、表面下数層に徐々に侵入する特徴がある。したがって、深いバルクからの影響なしに、最表面およびその直下の構造についての情報を得ることができる。本レビュー論文では、TRHEPDの特徴と固体表面および2次元物質の構造決定に適用した例について報告する。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 52 |
号 |
: | 1 |
ページ数 |
: | p.013002_1 - 013002_19 |
発行年月 |
: | 2019/01 |
キーワード |
: | no keyword |
論文URL |
: |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：20.55 分野：Physics, Applied |
Altmetrics |
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