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Total-reflection high-energy positron diffraction (TRHEPD) for structure determination of the topmost and immediate sub-surface atomic layers

最表面および表面下数層の構造決定法としての全反射高速陽電子回折(TRHEPD)

深谷 有喜; 河裾 厚男*; 一宮 彪彦*; 兵頭 俊夫*

Fukaya, Yuki; Kawasuso, Atsuo*; Ichimiya, Ayahiko*; Hyodo, Toshio*

最近、物質の表面構造を調べることを目的に、全反射高速陽電子回折(TRHEPD)法を開発した。TRHEPD法は反射高速電子回折(RHEED)の陽電子版である。入射する視射角に依存して、陽電子は物質表面で全反射もしくは、表面下数層に徐々に侵入する特徴がある。したがって、深いバルクからの影響なしに、最表面およびその直下の構造についての情報を得ることができる。本レビュー論文では、TRHEPDの特徴と固体表面および2次元物質の構造決定に適用した例について報告する。

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パーセンタイル:100

分野:Physics, Applied

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