検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年

異常X線小角散乱法による超電導線材の解析

Characterization of superconductor tape by anomalous small-angle X-ray scattering

大場 洋次郎  ; 佐々木 宏和*; 山崎 悟志*; 中崎 竜介*; 大沼 正人*

Oba, Yojiro; Sasaki, Hirokazu*; Yamazaki, Satoshi*; Nakasaki, Ryusuke*; Onuma, Masato*

超電導線材においては、ナノメートルサイズの人工ピンによる磁束のピン止め等、ナノ構造の制御による高性能化が行われている。小角散乱法は、このようなナノ構造の定量評価に適した実験手法である。特に、異常X線小角散乱法(ASAXS)を用いると、複雑なナノ構造を持つ試料においても、特定の元素が形成するナノ構造のみの情報を抽出することができる。本講演では、ASAXSを用いた超電導線材のナノ構造の解析について報告する。

no abstracts in English

Access

:

- Accesses

InCites™

:

Altmetrics

:

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.