Flux pinning by columnar defects along -axis in -axis oriented YBCO thin films

軸配向したYBCO薄膜における軸方向に導入した柱状欠陥による磁束ピンニング

末吉 哲郎*; 岩永 泰弥*; 藤吉 孝則*; 高井 洋輔*; 牟田 実広*; 向田 昌志*; 一瀬 中*; 石川 法人   

Sueyoshi, Tetsuro*; Iwanaga, Yasuya*; Fujiyoshi, Takanori*; Takai, Yosuke*; Muta, Mitsuhiro*; Mukaida, Masashi*; Ichinose, Ataru*; Ishikawa, Norito

軸配向したYBCO薄膜において、軸方向に導入した柱状欠陥による磁束ピンニングの効果を調べた。作製しやすい軸配向したYBCO薄膜において、軸方向に導入した柱状欠陥による磁束ピンニングの効果を調べた例はあったが、軸配向したYBCO薄膜の作製が困難だったため、軸配向したYBCO薄膜の柱状欠陥による磁束ピン止め効果はこれまで不明だった。本研究では、透過型電子顕微鏡を利用して、確かに軸方向に柱状欠陥が導入されていることを確認した上で、軸方向に導入した柱状欠陥によって、磁束ピニングの効果が向上せず、むしろ劣化する方向に働くことを明らかにした。この結果は、軸配向したYBCO薄膜において、軸方向に導入した柱状欠陥によって磁束ピンニングが常に向上する方向に働くこれまでの結果と対照的である。

Columnar defects (CDs) along -axis were installed into an in-plane aligned -axis-oriented YBaCuO film by using heavy-ion irradiation, in order to clarify the influence of CDs on flux pinning properties around B. The critical current density at B significantly decreases after the irradiation, since the CDs act as a channel for flux creep along their length. The magnetic field dependence of at B, on the other hand, is weakened by the introduction of CDs.