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小角X線散乱法によるコルソン合金中の析出物の時硬処理過程のその場測定

Nano-scale precipitates in Corson alloy during aging process characterized by in-situ small-angle X-ray scattering

山崎 悟志*; 廣瀬 清慈*; 佐々木 宏和*; 大場 洋次郎  ; 宮澤 知孝*; 大沼 正人*

Yamazaki, Satoshi*; Hirose, Kiyoshige*; Sasaki, Hirokazu*; Oba, Yojiro; Miyazawa, Tomotaka*; Onuma, Masato*

銅合金においては高強度と高導電性の両立が求められており、これを満たす材料の一つとして、Cu-Ni-Si系合金が知られている。Cu-Ni-Si系合金では、熱時効によりCu母相中にNi-Si系化合物を微細に析出させ、析出強化をもたらすことができるため、このNi-Si粒子の形態が特性にとって重要な役割を果たしている。そこで本研究では、走査型透過電子顕微鏡(STEM)、熱時効中その場X線小角散乱(SAXS)測定、X線吸収微細構造(XAFS)測定により、Ni-Si粒子の観察を行った。その結果、時効中にNi-Si粒子が形成し、粗大化する過程の観察に成功した。

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