SPring-8原子力機構ビームラインBL22XUにおけるマイクロXAFSシステムの構築
Development of micro XAFS system at SPring-8 JAEA beamline BL22XU
谷田 肇 ; 辻 卓也 ; 小畠 雅明 ; 北垣 徹
Tanida, Hajime; Tsuji, Takuya; Kobata, Masaaki; Kitagaki, Toru
東京電力福島第一原子力発電所の廃炉措置において、燃料デブリ等の性質を知るための分析は極めて重要である。試験的に取り出される燃料デブリや分析に利用できる試料は微粒子であると予想され、貴重である。また、比較的大きな試料の場合、線量が問題となって、取扱いが難しくなる。この様な試料の分析法として、X線を用いた非破壊のX線分析方法、特にXAFSが有効であるが、微粒子に適用するためにはX線をマイクロメートルオーダーに集光する必要がある。そのために、X線のエネルギーを変えても集光位置が変わらず、強度が得られるKirkpatrick-Baez(KB)ミラーをSPring-8において、硬X線アンジュレータを光源に持つ日本原子力研究開発機構専用ビームラインBL22XUのRI棟実験ハッチ3に導入した。
In the decommissioning of Fukushima Daiichi Nuclear Power Plant, analysis of fuel debris is extremely important to understand its properties. The fuel debris to be removed on a trial basis and the samples available for analysis are expected to be fine particles. In the case of relatively large samples, handling becomes difficult due to the dose problem. Non-destructive X-ray analysis using X-rays, especially XAFS, is an effective analysis method for such samples, but in order to apply it to fine particles, X-rays must be focused to the micrometer order. For this purpose, a Kirkpatrick-Baez (KB) mirror was installed in the experimental hutch 3 of the RI building of the JAEA beamline BL22XU, which has a hard X-ray undulator as a light source, at SPring-8.