測定端子が熱電物性測定に与える影響の伝熱シミュレーションによる検討

Investigation of the influence of measurement terminals on thermoelectric property measurements by heat transfer simulation

若生 峻信*; 早川 虹雪*; 松村 博志*; 村口 正和*; 小田 将人*; 飯野 千秋*; 石井 宏幸*; 本田 充紀   

Wako, Toshinobu*; Hayakawa, Kosetsu*; Matsumura, Hiroshi*; Muraguchi, Masakazu*; Oda, Masato*; Iino, Chiaki*; Ishii, Hiroyuki*; Honda, Mitsunori

熱電変換材料の物性計測において、測定端子との接触による伝熱が測定結果に与える影響を伝熱シミュレーションを用いて検討した結果を報告する。熱電変換技術ではIoT向けの小型電源などとの親和性から素子の小型化や薄膜化の検討が進められているが、これらを実現するためには微小な材料の熱電物性を正確に測定する必要があり測定系全体で結果を評価することが不可欠であることに着目して検討した結果を報告する。

This report investigates the effect of heat transfer due to contact with measurement terminals on the measurement results of thermoelectric material properties using heat transfer simulation. In thermoelectric conversion technology, miniaturization and thinning of elements are being studied for their compatibility with compact power supplies for the IoT, etc. In order to achieve this, it is necessary to accurately measure thermoelectric properties of minute materials, and it is essential to evaluate the results in the entire measurement system.