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原子核構造モデルによるミュオン捕獲後の粒子放出計算

Calculation of particle emission following muon capture within nuclear structure models

湊 太志   

Minato, Futoshi

半導体開発において、シリコンのミュオン捕獲による荷電粒子放出によって引き起こされるソフトエラーが問題になりつつある。しかし、ソフトエラー発生の評価に必要なミュオン捕獲による荷電粒子放出のエネルギー分布の情報は、いまだ実験的に十分に測定されていない。そのため、理論的なアプローチによる予測が必要とされている。我々は原子核のミュオン捕獲率を原子核の微視的な構造に着目し、新しい理論モデルを構築した。本発表では、そのモデルを用いて得られた最新の研究成果について紹介をする。

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