励起子絶縁体TaNiSeへの元素置換効果とX線回折による結晶構造の研究

Structural study of elemental substituted excitonic insulator TaNiSe using X-ray diffraction

廣瀬 雄介; 土田 駿*; 佐野 純佳*; 河口 彰吾*; 小林 慎太郎*; 大村 彩子*; 摂待 力生*

Hirose, Yusuke; Tsuchida, Shun*; Sano, Sumika*; Kawaguchi, Shogo*; Kobayashi, Shintaro*; Omura, Ayako*; Settai, Rikio*

TaNiSeはTc~330Kで直方晶から単斜晶への構造相転移と同時に絶縁体化し、励起子絶縁体の数少ない候補物質として注目され、盛んに研究がなされている。これまで我々は、元素置換によってTcの抑制や系の金属化などが起こることを明らかにしてきた。本研究では、元素置換による電子状態の変化の起源を結晶構造解析により、明らかにすることを目的とし、SPring-8のBL02にて、元素置換したTaNiSeの粉末X線回折実験を行ったので、その結果を発表する。

TaNiSe undergoes a structural phase transition from orthorhombic to monoclinic at Tc~330K and simultaneously becomes an insulator, which attracts attention as one of candidate materials for exciton insulators, and has been actively studied. We have previously demonstrated that element substitution can suppress Tc and cause the system to become metallic. In this study, we aimed to clarify the origin of the change in electronic state due to element substitution by crystal structure analysis, and we performed powder X-ray diffraction experiments on element-substituted TaNiSe at BL02 of SPring-8, and we will report the results.