単結晶構造解析のベイズ推定による評価

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鬼柳 亮嗣  ; 巽 一厳  ; 青木 裕之  ; 本武 陽一*; 大原 高志   

Kiyanagi, Ryoji; Tatsumi, Kazuyoshi; Aoki, Hiroyuki; Mototake, Yoichi*; Ohara, Takashi

物質中の原子配置は、物性研究や材料研究において最も基本的な情報の一つであり、それを決定する最も一般的な手法として、X線や中性子を用いた結晶構造解析がある。特に、高精度な構造解析を行うにあたっては、個々のブラッグ反射強度を独立に測定することが可能な単結晶を用いた構造解析が重要とされている。また、元素の重・軽に関わらず精度良くパラメータを決定するために、X線と中性子それぞれから得られるデータを同時に解析する手法も古くから行われている。実際の測定においては、全逆空間を測定するか、または独立な領域のみを測定するかなどの条件の違いにより、データ数は大きく変化する。また、測定されたデータに対しては、統計精度などの質などによる選別を行うこともある。しかし、このようなデータの量や質の違いが、構造解析の結果にどのような影響を与えるかは自明ではない。本発表では、単結晶構造解析におけるデータの量や質の影響およびX線-中性子同時解析の効果について、ベイズ推定の観点から検証を行った結果を報告する。

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