本研究では、全反射高速陽電子回折(TRHEPD)法を用いて、Ag(111)表面上に成長させたビスマセン(グラフェンのビスマス版)の原子配置を詳細に解析した。ビスマセン由来の回折スポットに着目した結果、[
]および[
]方位に対してペアとなるロッキング曲線のプロファイルに有意な差が認められなかった。これは、ビスマセンが平坦なハニカム格子で構成されていることを示唆する。動力学的回折理論に基づく強度計算を行ったところ、単位胞内の2つのビスマス原子はAg(111)層に対して同一高さに位置していることが明らかになった。さらに、ビスマセンとAg(111)の第一層におけるデバイ温度は、バルク材料と比較して低下していることが判明した。これらの結果は、ビスマセンの特異なトポロジカル特性を理解するための基礎的な構造情報を提供する。
no abstracts in English
発表言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
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巻 |
: | 127 |
号 |
: | 26 |
ページ数 |
: | p.263102_1 - 263102_6 |
発行年月 |
: | 2025/12 |
キーワード |
: | no keyword |
論文URL |
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論文解説 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：0.00 分野：Physics, Applied |
Altmetrics |
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