放射光マイクロビームの同一視野XRF、XRD、XAFSを用いた元素、化合物、価数のマッピング分析手法の構築と応用

Development and application of mapping analysis methods for elements, compounds, and valences using XRF, XRD, and XAFS in the same field of view with synchrotron microbeams

Tanida, Hajime; Endo, Ryo*; Akiyama, Daisuke*; Okamoto, Yoshihiro; Kirishima, Akira*

SPring-8の高輝度放射光を用いて、X線を1マイクロメートル四方に集光し、微小試料に対して、蛍光X線による元素マップとX線回折による化合物マップを取得し、特定の位置でのX線吸収スペクトルを測定して、元素の価数評価を行うシステムを構築し、UO $_{2}$ -ZrO $_{2}$ 固溶体試料へ適用した。

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発表言語	:	Japanese
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発表会議名	:	日本原子力学会2025年秋の大会
開催年月	:	2025/09
開催都市	:	北九州
開催国	:	日本
キーワード	:	放射光; マイクロビーム; マッピング; 化合物; 価数

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使用施設	:	SPring-8(大型放射光施設)
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登録番号 : BB20250840
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