谷田 肇 
; 遠藤 瞭*; 秋山 大輔*; 岡本 芳浩 ; 桐島 陽*
Tanida, Hajime; Endo, Ryo*; Akiyama, Daisuke*; Okamoto, Yoshihiro; Kirishima, Akira*
模擬デブリ試料に対して、イメージングXAFSを実施し、蛍光X線による元素マップとX線回折による化合物マップを取得し、特定の位置でのX線吸収スペクトルを測定して、元素の価数評価を行うシステムを構築した。
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発表言語 |
: | Japanese |
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発表会議名 |
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開催年月 |
: | 2026/01 |
開催都市 |
: | 仙台 |
開催国 |
: | 日本 |
キーワード |
: | 福島第一原子力発電所事故; Fukushima Daiichi Nuclear Power Station Accident; 放射光; マイクロビーム; マッピング; 化合物; 価数 |
論文URL |
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論文解説 |
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