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Determination of $$gamma$$-ray efficiency curves for volume samples by the combination of Monte Carlo simulations and point source calibration

モンテカルロ計算と点線源校正の組み合わせによる体積試料に対する$$gamma$$線効率曲線の評価

三枝 純; 大石 哲也 ; 川崎 克也 ; 吉澤 道夫  ; 吉田 真; 澤畠 忠広*; 本多 哲太郎*

Saegusa, Jun; Oishi, Tetsuya; Kawasaki, Katsuya; Yoshizawa, Michio; Yoshida, Makoto; Sawahata, Tadahiro*; Honda, Tetsutaro*

放射線管理の現場において体積試料の放射能測定は一般的にGe検出器を用いた$$gamma$$線スペクトロメトリ法により行われるが、あらかじめ試料の形状、密度、組成等を考慮した校正体積線源を作製するなどして固有の計数効率曲線を求めておく必要がある。校正線源の作製はその煩雑さや廃棄物の観点から問題も伴う。このため、解析的な手法やモンテカルロシミュレーション手法を用い、効率曲線を簡易的に求める方法もいくつか報告されているが、検出器結晶の不感層領域等を計算体系に正確に反映するのは難しい。ここではMCNP-4Bを用いたシミュレーション計算と、校正点線源による測定試料の代表点での一点校正を組み合わせることにより、不感層領域等、不確定な要因にあまりとらわれず、効率曲線を評価することを試みた。これにより測定試料の効率曲線を簡便に、精度良く評価することが可能となった。

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