Yamamoto, Hiroyuki; Saito, Takeru; Asaoka, Hidehito
分子イオンを固体表面に照射した場合、原子イオンに比べてはるかに低い照射密度において顕著なクラスター放出がみられる。本研究においては、種々のイオンをSi表面に照射し、放出された粒子の質量を分析することにより照射イオン種とクラスター生成効率との関係について検討した。この結果、分子イオンを一定速度で照射した場合、SF
はSF
に比べて最大100倍程度のクラスター強度となるのに対し、原子イオンでこれらと同程度の質量であるXeとArの場合はクラスター強度の差はこれほど顕著とはならなかった。これはクラスター生成において照射イオンの質量よりもその径が大きく影響するためと考えられる。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
|---|---|---|
掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 178 |
号 |
: | 1-4 |
ページ数 |
: | p.127 - 133 |
発行年月 |
: | 2001/07 |
発表会議名 |
: | 10th International Symposium on Small Particles and Inorganic Clusters (ISSPIC-10) |
開催年月 |
: | 2000/10 |
開催都市 |
: | Atlanta |
開催国 |
: | U. S. A. |
キーワード |
: |
論文URL |
: |
この論文を読む・探す |
|---|---|---|
論文解説記事 |
: |
Access |
: |
- Accesses |
|---|---|---|
InCites™ |
: |
パーセンタイル：32.95 分野：Chemistry, Physical |
Altmetrics |
: |
[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.
