thin films on a KBr(001) surface薄膜成長過程のAFMによる研究Narumi, Kazumasa; Naramoto, Hiroshi
KBr(001)表面上でのC薄膜の成長過程を、原子間力顕微鏡を用いて観察した。成長の初期過程においては、基板温度に依存して3種類の島状構造が観察された。KBr(001)表面に平行にfcc構造の{111}面が成長する板状の島は全ての基板温度において観察され、その形状は基板温度に依存して変化した。ほかの2種類の島は3次元的な構造を持ち、基板温度が高いときに観察された。X線回折の結果では、全ての基板温度でC{111}面が観察される一方、基板温度が高いときにはC{111}面が現れた。この結果より、C{111}面は上記の3次元状の島に起因するものと考えられる。また、KBrの
方向に平行なステップのエッジにおいて成長する島は、テラス上で成長する島と異なり、表面に垂直な方向だけでなく、平行な面内でも結晶学的に方向がそろうことがわかった。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 10 |
号 |
: | 3-7 |
ページ数 |
: | p.980 - 983 |
発行年月 |
: | 2001/03 |
発表会議名 |
: | |
開催年月 |
: | 2000/09 |
開催都市 |
: | Porto |
開催国 |
: | Portugal |
キーワード |
: | フラーレン; 原子間力顕微鏡; ヘテロエピタキシャル成長; X線回折; KBr |
論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：22.29 分野：Materials Science, Multidisciplinary |
Altmetrics |
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