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論文

Development of a cryogenic load frame for a neutron diffractometer

土屋佳則*; 鈴木裕士; 梅野高裕*; 町屋修太郎*; 長村光造*

Measurement Science and Technology, 21(2), p.025904_1 - 025904_4, 2010/01

https://doi.org/10.1088/0957-0233/21/2/025904

被引用回数：18 パーセンタイル：73.18(Engineering, Multidisciplinary)

複合超電導線材の臨界ひずみに対する応力/ひずみの影響を解明するためには、極低温負荷中におけるひずみ測定による検討が必要とされている。そこで、極低温負荷中の格子ひずみの変化を測定することを目的として、中性子回折実験用の低温引張試験機を開発した。最低温度は4.8K,負荷容量は10kNである。開発した低温引張試験機を用いて、SUS316及びYBCO coated conductorの低温引張試験を実施し、中性子回折法によりそれぞれの格子ひずみの変化を測定した。これにより、広範の温度域における負荷応力/ひずみと格子ひずみの関係を明らかにした。