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ガラス固化体中の異物の検出方法

西澤 代治; 大山 孝一; 宮内 厚志; 永井 崇之

猪瀬 毅彦*

【課題】簡単で迅速なガラス固化体中の異物の検出方法を提供する。 【解決手段】YAG-5ωレーザが光源として用いられるレーザアブレーション法誘導結合プラズマ発光分光分析法(LA法ICP-AES)によるガラス固化体中の異物の検出方法が、当該レーザ光の線状照射により、(A)異物に特有な元素の局所的なICP発光強度又はICP発光強度の変化、若しくは(B)異物に特有な酸化物の局所的な濃度又は濃度変化が測定され、ガラス固化体中に混入又は偏在する異物が検出される工程を含む。

Representative country of application

 :

日本

Application number

 :

2014-182856

Publication number

 :

2016-057137

Patent number

 :

6406695

Date of filing

 :

2014/09/09

Date of publication

 :

2016/04/21

Date of patent

 :

2018/09/28

PCT application number

 :

PCT patent number

 :

EPC application number

 :

EPC patent number

 :

International patent classification

 :

G01N 21/73 (2006.01)

Relevant patent

 :

【ガラス固化体の元素濃度分析方法(特願2014-29623)】【レーザーアブレーションICP分析法を用いた貴金属の分析方法(特許第5106518号)】

Relevant other documents

 :

【日本原子力学会「2014年春の年会」H50予稿、発表原稿、レーザーアブレーション法ICP-AESによる模擬ガラス固化体の元素分析(3)ガラス固化体中の未溶解物検出及び異物溶解量測定】

Published unexamined patent application

 :

P13980A.pdf

Link for Patent Gazette

 :

P13980B.pdf

Licensable Patent Information Database

 :

Licensable Patent Information Database

Press Release

 :

Article of JAEA R&D Review

 :

Access

From 2021.3.1

 :

- Accesses

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