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放射線計測方法及び放射線計測装置

井崎 賢二; 森下 祐樹; 山崎 巧

金子 純一*; 樋口 幹雄*; 坪田 陽一*; 山本 誠一*; 石橋 浩之*

【課題】環境中に管理対象放射性物質とそれ以外の放射性物質が混在する場合であっても、管理対象放射性物質に起因する放射能汚染を短時間に計測して評価する放射線計測方法を提供する。 【解決手段】測定試料に付着している放射性物質に感応して検出信号を発生する多数の検出ピクセルを平面状に並べて放射線検出面を構成した放射線検出器の多数の検出ピクセルから出力される検出信号を、放射線検出面を複数の領域に分割して各分割領域に該当する検出ピクセルから出力される検出信号を検出処理し、分割領域毎に検出される放射線検出結果を出力する信号処理装置を用いて測定試料中の放射性物質の放射線量を計測する。

Representative country of application

 :

日本

Application number

 :

2015-028396

Publication number

 :

2016-151454

Patent number

 :

6524484

Date of filing

 :

2015/02/17

Date of publication

 :

2016/08/22

Date of patent

 :

2019/05/17

PCT application number

 :

PCT patent number

 :

EPC application number

 :

EPC patent number

 :

International patent classification

 :

G01T 1/169(2006.01):G01T 1/167(2006.01)

Relevant patent

 :

【シンチレータプレート、放射線計測装置、放射線イメージング装置およびシンチレータプレート製造方法(特願2011-79426)(WO2012/133796)】

Relevant other documents

 :

Published unexamined patent application

 :

P13987A.pdf

Link for Patent Gazette

 :

P13987B.pdf

Licensable Patent Information Database

 :

Press Release

 :

JAEA R&D Navigator

 :

Access

From 2021.3.1

 :

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