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同位体分析装置及び同位体分析方法

桑原 彬; 藤平 俊夫; 南川 卓也

松井 信*

【課題】低濃度試料による分析でも高い精度で同位体の分析を行うことが可能な同位体分析装置を提供する。 【解決手段】本発明に係る同位体分析装置1は、入射側高反射ミラー151と、前記入射側高反射ミラー151とで対を成し、光キャビティー155を形成する出射側高反射ミラー152と、前記入射側高反射ミラー151にレーザー光を入射するレーザー光入射部(光学系45)と、前記出射側ポート140から出射する光を受光する光検出部(光電子増倍管50)と、前記光検出部(光電子増倍管50)の出力をスペクトル信号に変換するスペクトル信号変換部(オシロスコープ70、コンピューター80)と、からなり、前記光キャビティー155内でドップラーフリースペクトルを発現させると共に、前記スペクトル信号変換部(オシロスコープ70、コンピューター80)で得られる、特定元素の各同位体のドップラーフリースペクトル信号強度の比に基づいて同位体の分析を行うことを特徴とする。