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陽電子消滅特性測定装置

平出 哲也

山脇 正人*

【課題】試料に対する加工を必要とせず、かつ高精度で容易に陽電子消滅特性を測定する。 【解決手段】陽電子源Xを具備するヘッド部40により、試料Sに入射しなかった陽電子が検出される。計数部70は、コインシデンス回路20による同時性の判定結果、及びアンチコインシデンス回路50による非同時性(同時性)の判定結果に基づいて、時間差に対応した計数を行うが、ここでは上記の判定結果に応じた計数によって作成した2つのヒストグラム(第1時間差データ、第2時間差データ)を作成し、これらを記憶部80に記憶させる。寿命解析部90は、記憶部80から第2時間差データを読出し、第1時間差データにおいて、上記のように装置に起因して発生した影響を考慮し、試料Sの本来の陽電子消滅特性の解析結果を出力する。