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陽電子消滅特性測定装置

平出 哲也

山脇 正人*

【課題】試料に対する加工を必要とせず、かつ高精度で容易に陽電子消滅特性を測定する。 【解決手段】陽電子源Xを具備するヘッド部40により、試料Sに入射しなかった陽電子が検出される。計数部70は、コインシデンス回路20による同時性の判定結果、及びアンチコインシデンス回路50による非同時性(同時性)の判定結果に基づいて、時間差に対応した計数を行うが、ここでは上記の判定結果に応じた計数によって作成した2つのヒストグラム(第1時間差データ、第2時間差データ)を作成し、これらを記憶部80に記憶させる。寿命解析部90は、記憶部80から第2時間差データを読出し、第1時間差データにおいて、上記のように装置に起因して発生した影響を考慮し、試料Sの本来の陽電子消滅特性の解析結果を出力する。

代表出願国

 :

日本

出願番号

 :

2019-040674

公開番号

 :

2020-144002

登録番号

 :

7239921

出願日

 :

2019/03/06

公開日

 :

2020/09/10

登録日

 :

2023/03/07

PCT出願番号

 :

PCT登録番号

 :

EPC出願番号

 :

EPC登録番号

 :

IPC

 :

G01N 23/22 (2018.01):G01T 1/172 (2006.01):G01T 1/20 (2006.01)

関連特許

 :

特開2012-127942 「陽電子消滅特性測定装置及び陽電子消滅特性測定方法」

関連文献

 :

公開特許公報

 :

P51080A.pdf

特許公報

 :

P51080B.pdf

開放特許情報
データベース

 :

広報プレスリリース

 :

論文解説記事
(成果普及情報誌)

 :

Access

From 2021.3.1

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