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元素分析システム

大場 弘則

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【課題】分析精度を向上させた元素分析システムを提供する。 【解決手段】元素分析システムは、励起レーザ光を出力するレーザ光源と、レーザ光源から出力された励起レーザ光によって励起されて、パルスレーザ光を発振するレーザ発振部と、レーザ発振部で発振されたパルスレーザ光が照射された対象物で発生したプラズマ光に基づいて、対象物に含有する元素を分析する分析部と、レーザ光源から出力された励起レーザ光をレーザ発振部に導く光ファイバケーブルとを備える。光ファイバケーブルは、予め定められた許容曲げ直径より小さい曲げ直径に湾曲された湾曲部を有する。

代表出願国

 :

日本

出願番号

 :

2025-032004

公開番号

 :

2026-144604

登録番号

 :

出願日

 :

2025/02/28

公開日

 :

2026/09/09

登録日

 :

PCT出願番号

 :

PCT登録番号

 :

EPC出願番号

 :

EPC登録番号

 :

IPC

 :

G01N 21/71 (2006.01):H01S 3/00 (2006.01):H01S 3/10 (2006.01)

関連特許

 :

関連文献

 :

公開特許公報

 :

P54742A.pdf

特許公報

 :

開放特許情報
データベース

 :

広報プレスリリース

 :

論文解説
(JAEA R&D Navigator)

 :

Access

From 2021.3.1

 :

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