側方散乱光を用いた遠隔レーザーレーダー微粒子計数装置

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【課題】従来のレーザーレーダー方式では、大気中遠方の限られた空間にある微粒子にレーザー光を照射して、微粒子個々からの散乱光を一つずつ検出しなければならないという問題点がある。【解決手段】レーザー光をシート状に大気中に出射し、そのシート面内の微粒子個々から側方散乱光を発生させ、レーザー光のシート面の垂直方向に備え付けられた高感度2次元光検出器で微粒子個々からの側方散乱光を計測することにより気中の個々の微粒子を斑点状の画像として計測し、この画像中の斑点の数、及び斑点の輝度を解析することにより、遠方の限られた空間に存在する微粒子の数、密度、粒径分布及び空間分布等を同時に算出する、側方散乱光を用いた遠隔レーザーレーダー微粒子計数装置。

Representative country of application	:	日本
Application number	:	H15-294227
Publication number	:	H17-062055
Patent number	:	3963381
Date of filing	:	2003/08/18
Date of publication	:	2005/03/10
Date of patent	:	2007/06/01
PCT application number	:
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EPC application number	:
EPC patent number	:
International patent classification	:	G01N 15/02 (2006.01)
Relevant patent	:
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Published unexamined patent application	:	P6237A.pdf
Link for Patent Gazette	:	P6237B.pdf
Licensable Patent Information Database	:	Licensable Patent Information Database
Press Release	:
Article of JAEA R&D Review	:

Sequential number : 6237