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誘電体磁器の評価方法

水木 純一郎; 西畑 保雄

安川 勝正*; 西村 道明*

【課題】X線回折を利用して、コアシェル構造を具備する誘電体磁器におけるコア部とシェル部の結晶相について体積分率とシェル部の厚みの定量を可能とし、これにより材料の平均的な情報、特に微構造情報を取得できるようにした誘電体磁器の評価方法を提供することを課題とする。 【解決手段】コアシェル構造を具備するペロブスカイト型結晶粒子からなる誘電体磁器の誘電体多結晶表面にX線を照射し、前記ペロブスカイト結晶における正方晶の(H K L)と、立方晶の(H' K' L')の回折強度を測定し、明細書に記載の特定式からコア部1(正方晶部分)とシェル部2(立方晶部分)の結晶相の体積分率を定量すると共に、前記ペロブスカイト結晶における立方晶の(H' K' L')の回折強度におけるピーク半値幅を測定し、明細書に記載の特定式からシェル部の厚みを算出する。