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研究開発報告書類（JAEA-Research等）学会誌等掲載論文口頭発表特許

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論文

Absolute calibration of imaging plate for GeV electrons

中新信彦*; 近藤公伯; 薮内俊毅*; 辻和樹*; 田中和夫*; 鈴木伸介*; 安積隆夫*; 柳田謙一*; 花木博文*; 小林尚志*; et al.

Review of Scientific Instruments, 79(6), p.166102_1 - 066102_3, 2008/06

高エネルギー電子線の検出器として利用されるイメージングプレートの絶対感度較正を行った。GeV領域に感度較正範囲を広げるべくSPring-8の入射用ライナックを利用した。この結果、従来の100MeVまでの感度が1GeVまで広げられた。