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口頭

極端紫外自由電子レーザーとフッ化リチウム画像計測器とを用いた物質のイメージング

福田 祐仁; Faenov, A. Y.; Pikuz, T. A.*; 永園 充*; 東谷 篤*; 富樫 格*; 矢橋 牧名*; 木村 洋昭*; 大橋 治彦*; 石川 哲也*

no journal, , 

X線自由電子レーザー(XFEL)のプロトタイプ機として整備が進められている極端紫外自由電子レーザー(EUVFEL)とフッ化リチウム(LiF)製の放射線画像検出器とを用い、EUVFELの空間コヒーレンス分布の計測、及び、LiF画像検出器のEUV領域でのダイナミックレンジの評価を行うためのイメージング実験を行った。その結果、金属メッシュ,アルミフィルター等のシングルショットイメージの取得に成功した。このイメージの解析から、LiF検出器は、EUVFEL光のシングルショットでも十分な感度を有する、EUVFEL光の空間コヒーレンスは極めてよい、この観測を行った位置でのEUVFELのビーム径は9.0$$times$$8.4mm(半値全幅)である等、のことを明らかにした。

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