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古田 稔将*; 魚住 祐介*; 山口 雄司; 岩元 洋介; 古場 裕介*; Velicheva, E.*; Kalinnikov, V.*; Tsamalaidze, Z.*; Evtoukhovitch, P.*
Journal of Nuclear Science and Technology, 61(2), p.230 - 236, 2024/02
被引用回数:0 パーセンタイル:0.01(Nuclear Science & Technology)230MeV/u粒子のAl標的入射実験によって粒子のフラグメンテーション反応による荷電粒子生成の研究を行った。Si検出器と結晶シンチレータからなるカウンターテレスコープを用いて、p, d, t, He、及びHe各粒子の生成二重微分断面積を放出角15-60について測定した。取得データをより低い入射エネルギーの測定データと比較し分析した結果、(1)前方角の高エネルギー領域では陽子と中性子の放出スペクトルが類似している、(2)低入射エネルギー実験と同様に粒子の分解で生じたtとHeの収量の比は1:2である、(3)Heと粒子の幅広いピークの分布は入射粒子と標的原子核との衝突過程によって説明できるという一般的な特徴を見出した。
古田 稔将*; 魚住 裕介*; 山口 雄司; 岩元 洋介; 佐波 俊哉*; 古場 裕介*
no journal, ,
本研究では、230MeV/uの粒子入射荷電粒子生成反応の二重微分断面積(DDX)の取得を目的とする。230MeV/uの粒子ビームを標的核C, Al, Coに入射し、その結果生じた放出角度15, 20, 40, 60における荷電粒子p, d, t, He, の生成量を測定し、各標的核・放出角度のDDXを取得した。検出器としてSi半導体検出器,GSOシンチレータ,PWOシンチレータで構成されたカウンターテレスコープを使用し、放出粒子の種類およびエネルギーの同定にはE-E測定法を用いた。