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奈部谷 光一郎*; 村松 裕也*; 岡 研吾*; 中野 紀穂*; 北條 元*; 水牧 仁一朗*; 安居院 あかね; 肥後 祐司*; 林 直顕*; 高野 幹夫*; et al.
Applied Physics Letters, 106(6), p.061912_1 - 061912_5, 2015/02
被引用回数:61 パーセンタイル:89.14(Physics, Applied)ほとんどの物質は温度が上昇すると、熱膨張によって長さや体積が増大する。光通信や半導体製造などの精密な位置決めが要求される局面では、このわずかな熱膨張が問題になる。そこで、昇温に伴って収縮する「負の熱膨張」を持つ物質によって、構造材の熱膨張を補償することが行われている。本研究において、室温付近で既存材料の2倍以上の大きさの「負の熱膨張」を示す酸化物材料を発見した。添加元素の量を変化させることで負の熱膨張が現れる温度域を制御できるほか、これまでの材料の問題点だった温度履歴が抑制されている。
秋田 貢一; 林 健吾*; 竹田 和也*; 佐野 雄二*; 鈴木 裕士; 盛合 敦; 大谷 眞一*
Mechanical Engineering Journal (Internet), 1(4), p.SMM0029_1 - SMM0029_8, 2014/08
ピーニング技術による圧縮残留応力の導入は、疲労や応力腐食割れ等の鋼の強度特性の改善に有効である。ただし、圧縮残留応力は稼働時に機器に作用する熱的あるいは機械的な外力が原因で低下する可能性がある。本研究では、レーザーピーニングを施したフェライト鋼の静的引張荷重下における表面及び内部の残留応力挙動を、X線および中性子回折によって検討した。X線回折および中性子回折の相補利用により、応力緩和プロセスを明確に示す実験的確証が得られた。また、引張負荷応力下における臨界負荷応力の値は、内部の最大引張残留応力値とvon Misesの降伏条件によって推定できることを示した。
松村 武*; 道村 真司*; 稲見 俊哉; 林 佑弥*; 伏屋 健吾*; 松田 達磨*; 東中 隆二*; 青木 勇二*; 菅原 仁*
Physical Review B, 89(16), p.161116_1 - 161116_5, 2014/04
被引用回数:15 パーセンタイル:54.10(Materials Science, Multidisciplinary)SmRuPのK以下の反強磁性相とと(=14K)間の中間相を共鳴と非共鳴のX線回折法で研究した。中間相では非共鳴の=(1,0,0)のThomson散乱が磁場によって誘起される。この現象は理論的に予言されているバンドの電荷秩序を反映した原子変位によって引き起こされている。同時にSmの磁場方向の反強磁性モーメントが強調され、これは結晶場状態の交互配列を反映していると考えられる。この結果は、軌道に依存した-混成とpバンドのネスティング不安定性がPrRuPやPrFePと同様な非従来型電荷秩序を引き起こしていることを示している。
山脇 道夫*; Luo, G.*; 澁谷 憲悟*; 山口 憲司*; 林 君夫
東京大学工学部総合試験所年報, 59, p.105 - 110, 2000/12
原研から東京大学山脇教授への平成11年度委託研究「核融合炉固体トリチウム増殖材料の照射下物性・機能に関する予備試験(IV)」の報告書である。高温工学に関する先端的基礎研究の一環として、高温での材料キャラクタリゼーション法開発の位置づけで、標記研究を平成8年度から継続している。照射による仕事関数変化を研究するため、ケルビン計をイオンビーム施設に設置した。東大の重イオン照射研究設備(HIT)のバン・デ・グラーフ加速器を用いて、MeVオーダーのイオンビーム照射による効果を調べた。一方、低エネルギー(500eV)のイオンビームを用いる測定系も開発した。その結果、測定は絶縁体表面の電荷蓄積及び2次電子放出によって大きな影響を受けることがわかった。これらの影響がない場合には、数mV程度の小さな仕事関数変化が測定できることが実証された。
秋田 貢一; 林 健吾*; 竹田 和也*; 佐野 雄二*; 大谷 眞一*
no journal, ,
機械的負荷によるピーニング残留応力の緩和過程を中性子回折法を用いて検討した。表面圧縮残留応力の緩和は、表面応力が降伏応力に達するよりも低い負荷レベルにおいて発生した。これは、この時点で部材の板厚中心付近の引張残留応力領域が降伏点に達し、残留応力が再配分したためである。したがって、引張負荷応力下における表面圧縮残留応力の緩和を検討する場合は、内部残留応力分布の把握が重要である。