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田代 孝二*; 塙坂 真*; 山元 博子*; Wasanasuk, K.*; Jayaratri, P.*; 吉澤 功徳*; 田中 伊知朗*; 新村 信雄*; 日下 勝弘*; 細谷 孝明*; et al.
高分子論文集, 71(11), p.508 - 526, 2014/11
被引用回数：6 パーセンタイル：22.37(Polymer Science)高分子結晶構造の詳細を、水素原子位置まで含めて明らかにすることを目的とし、高エネルギーX線および中性子回折データの収集ならびにそれらの解析結果を、さまざまの結晶性高分子を例として総合的に記述した。まず、最近にまで至る高分子構造解析手法の発展について概要を述べるとともに、それらの各段階における問題点について考察した。斜方晶型ポリエチレン、アタクティックポリビニルアルコール、ポリ乳酸およびそのステレオコンプレックスなど、いろいろの意味で重要な高分子について、これまでに提案されてきた構造を再吟味するとともに、新たに提案した構造について記述した。水素原子位置についても精確に決定された場合は、それらの構造情報に基づく極限力学物性の定量的予測を行った。さらにはポリジアセチレンの場合について、X線および中性子構造解析によって得られた精密な電子密度分布および原子位置座標の情報にいわゆるX-N法を適用し、主鎖骨格に沿った結合電子密度分布についての導出についても言及した。構造物性相関解明における高分子結晶構造解析の今後の展開についても言及した。
Co
measured using soft X-ray magnetic circular dichroism安居院 あかね; 水牧 仁一朗*; 朝日 透*; 松本 幸治*; 森河 剛*; 佐山 淳一*; 逢坂 哲彌*
Journal of Physics and Chemistry of Solids, 68(11), p.2148 - 2152, 2007/11
被引用回数：9 パーセンタイル：41.74(Chemistry, Multidisciplinary)強い垂直磁気異方性を示す磁性材料が高密度磁気記録媒体として不可欠となっている。DyCoアモルファス膜は有望な光学磁気記録材料として注目されている。これまで、垂直磁化膜の磁気異方性エネルギーや保磁力など膜全体の磁気特性の報告が多くなされている。一方、膜の構成元素ごとの磁気特性について着目し元素選択的・軌道選択的に測定した物理量と、前述した系全体を表す物理量との相関について研究している例は少ない。本稿では軟X線磁気円二色性分光測定を用い、DyCo垂直磁化膜の磁気特性を元素選択的・軌道選択的観点から研究した例を紹介する。
-edge of perpendicular magnetic DyCo films安居院 あかね; 水牧 仁一朗*; 朝日 透*; 佐山 淳一*; 松本 幸治*; 森川 剛*; 松下 智裕*; 逢坂 哲彌*; 三浦 義正*
Journal of Alloys and Compounds, 408-412, p.741 - 745, 2006/02
被引用回数：7 パーセンタイル：46.38(Chemistry, Physical)次世代高密度記録媒体材料の候補として期待される希土類-遷移金属アモルファス薄膜の垂直磁気異方性の濃度依存性を元素別に調べるために、DyCo
膜の軟X線吸収測定及び磁気円二色性測定を行った。MCD測定は磁化の入射角に対する軸方向への射影としてあらわれ、濃度によってDyのモーメントの広がりが変化することがわかった。
-edges of Tb
FeCo
perpendicular magnetization films安居院 あかね; 水牧 仁一朗*; 朝日 透*; 佐山 淳一*; 松本 幸治*; 森河 剛*; 中谷 健; 松下 智裕*; 逢坂 哲彌*; 三浦 義正*
Transactions of the Magnetics Society of Japan, 4(4-2), p.326 - 329, 2004/11
希土類-遷移金属(RE-TM)アモルファス合金薄膜は、強い垂直磁気異方性を示すという特長により、光磁気ディスクに用いられている。これまで、TbFeCo薄膜の磁気異方性エネルギーや保磁力などの磁気特性につき多くの報告がなされているが、その垂直磁気異方性の起源は明確となっていないのみならず、その磁気特性についてミクロスコピックな測定から得られる物理量との相関について議論した例もない。一方、軟X線磁気円二色性(MCD)分光は元素選択的・軌道選択的測定という特長を持ち、複数の磁性元素で構成される磁性体の磁気的性質を調べるのに威力を発揮する。そこで、われわれはMCD分光によりTbFeCo垂直磁化膜の磁気異方性エネルギーと軌道角運動量の相関を調べた。
Coの硬X線MCDの磁場依存性安居院 あかね; 水牧 仁一朗*; 朝日 透*; 籠宮 功*; 松本 幸治*; 佐山 淳一*; 森河 剛*; 逢坂 哲彌*
no journal, ,
希土類遷移金属(RE-TM)アモルファス合金薄膜の強い垂直磁気異方性を垂直磁気記録媒体へ応用し超高密度磁気記録を達成する試行がなされている。本研究では、希土類金属がDy、遷移金属がCoのアモルファス薄膜についてDyの5d電子及びCo 4p電子に着目して元素別ヒステリシス測定を行った。試料として組成比の異なるDyCoアモルファス薄膜をCr(20nm)を下地層としSi基板上にマグネトロンスパッタリング法で成膜した。試料最表面は酸化防止のためSiN(5nm)を成膜した。Dy L2,3及びCo K吸収端MCD測定は蛍光収量法で大型放射光施設SPring-8 BL39XUで行った。磁気円二色性は移相子で左右円偏光切り替えて室温で測定した。MCDの測定からTb 5d, Co 4pのモーメンに関する元素別ヒステリシスループは磁場の変化に対して急峻に反転していることがわかった。これに対して全磁化VSMの反転が磁場変化に対してゆっくり起こっていることがわかった。一般に、おもに磁性を担うDy4f及びCo3d電子は局在した電子であり互いに直接には関与しあわないが、遍歴的なバンド電子であるDy 5d及びCo 4p電子を媒体として結びついていると考えられる。これらTb 5d, Co 4p電子がどのような機構で磁気的性質と結びついているか考察する。
安居院 あかね; 水牧 仁一朗*; 朝日 透*; 佐山 淳一*; 籠宮 功*; 松本 幸治*; 森河 剛*; 逢坂 哲彌*
no journal, ,
垂直磁気記録方式が実用化される機運が高まり、超高密度磁気記録を実現する材料開発が切望されている。希土類-遷移金属(RE-TM)アモルファス薄膜はSperri磁性構造をもち、ある組成において垂直磁気異方性を示すことから、有望な垂直磁気記録媒体として着目されている。ミクロスコピックな知見を得る測定方法として硬X線磁気円二色性(MCD)を用いたMCD測定は得られる情報が元素選択的・軌道選択的でありRE-TM薄膜のように複数の磁性元素で構成される磁性体のミクロスコピックな磁気的性質を調べるのに有効な手段である。今回はDyの5d, Co 4p電子に着目して元素別ヒステリシス測定を行ない、マクロなヒステリシスループと振る舞いが異なることを見いだした。
Co by means of magnetic circular dichroism安居院 あかね; 水牧 仁一朗*; 朝日 透*; 佐山 淳一*; 籠宮 功*; 松本 幸治*; 森河 剛*; 逢坂 哲彌*
no journal, ,
希土類-遷移金属(RE-TM)アモルファス薄膜はSperri磁性構造をもち、ある組成において垂直磁気異方性を示すことから、有望な垂直磁気記録媒体として着目されている。ミクロスコピックな知見を得る測定方法として硬X線磁気円二色性(MCD)を用いたMCD測定は得られる情報が元素選択的・軌道選択的でありRE-TM薄膜のように複数の磁性元素で構成される磁性体のミクロスコピックな磁気的性質を調べるのに有効な手段である。今回はDyの5d, Co 4p電子に着目して元素別ヒステリシス測定を行ない、マクロなヒステリシスループと振る舞いが異なることを見いだした。
Co垂直磁化膜の研究安居院 あかね; 水牧 仁一朗*; 朝日 透*; 松本 幸治*; 佐山 淳一*; 森河 剛*; 逢坂 哲彌*
no journal, ,
垂直磁気記録方式が実用化され、超高密度磁気記録を実現する材料開発はますます盛んになっている。希土類-遷移金属(RE-TM)アモルファス薄膜は、ある組成において垂直磁気異方性を示すことから、垂直磁気記録媒体として有望視されている。X線磁気円二色性(MCD)分光測定は、得られる情報が元素選択的・軌道選択的でありRE-TM薄膜のように複数の磁性元素で構成される磁性体の磁気的性質を調べるのに有効な手段である。本講演では垂直磁化(RE-TM)アモルファス薄膜としてDyCoに着目し、Dy 4f, 5d及びCo 3d, 4pの電子・スピン状態について調べた結果をまとめて報告する。
安居院 あかね; 水牧 仁一朗*; 朝日 透*; 松本 幸治*; 森河 剛*; 田中 真人*; 佐山 淳一*; 逢坂 哲彌*
no journal, ,
希土類-遷移金属(RE-TM)アモルファス薄膜はSperri磁性の構造を持ち、あるRE-TMの組成比において垂直磁気異方性を示す。これまでにわれわれはTb-Fe-Coアモルファス薄膜の磁気異方性エネルギーや保磁力などの磁気特性と、構成元素別のミクロスコピックな物理量との相関について報告してきた。X線磁気円二色性を用いた測定は、得られる情報が元素選択的・軌道選択的でありRE-TM薄膜のように複数の磁性元素で構成される磁性体の磁気的性質を調べるのに有効な手段である。今回は、Tb-Co垂直磁化膜のTb 4f及びCo3dの電子に着目して、元素・軌道選択的磁気ヒステリシス測定を行ったので報告する。
