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細川 伸也*; 川北 至信; Stellhorn, J. R.*; Pusztai, L.*; Blanc, N.*; Boudet, N.*; 池田 一貴*; 大友 季哉*
JPS Conference Proceedings (Internet), 33, p.011070_1 - 011070_7, 2021/03
銀イオン伝導体Ag(GeSe)のx=0.15, 0.28, 0.33, 0.50の試料について局所・中距離原子秩序がAXS, XRD, ND, RMCモデリングを組合せて調べられた。AXSとXRDで得られた結果にNDを加えることによって、もっともらしい部分構造と部分pdfを得ることができた。AXSとRMCによる以前の結果とは対照的に、多くのAg-Ge, Ge-Ge相関が第一近接殻内に見られるようになり、第一原理MDシミュレーションと一致する結果となった。GeとSeの配位数は、Agを考慮に入れなければ、すべてのAg濃度で8-規則にほぼ乗っている。Ag濃度が増加すると、Ag周りのGeとSeの部分配位数が著しく増加し、一方Ag-Ag配位数はわずかに増加するのみである。このことは、Agの伝導経路がAg-Ag相関の第2近接を経由して形成されていることを示している。
細川 伸也*; 川北 至信; Pusztai, L.*; 池田 一貴*; 大友 季哉*
Journal of the Physical Society of Japan, 90(2), p.024601_1 - 024601_12, 2021/02
被引用回数:2 パーセンタイル:30.35(Physics, Multidisciplinary)In order to improve the reliability of short- and intermediate-range atomic structures of GeSe glasses, high quality neutron diffraction data, in both the real and reciprocal spaces, were added to the existing anomalous X-ray scattering and X-ray diffraction datasets [Hosokawa et al., Phys. Rev. B 84, 014201 (2011)] for reverse Monte Carlo modeling. This addition proved to be highly effective for obtaining well-refined structural data and for revealing a close relationship between the compositional stiffness transition occurring at about = 0.20-0.26 and the partial structures. Although the and functions gradually change with varying , important indications on the stiffness transition are confirmed on the basis of the intermediate-range element-selective atomic structures () more clearly than it was possible by previous results. An abrupt decrease in terms of the the prepeak intensity of , a rapid disappearance of the Ge-Ge homopolar bonds, anomalies in the ratio of edge- and corner-sharing Ge(Se) tetrahedra, and characteristic changes in the tetrahedral connections with decreasing X across the so-called intermediate phase have all been observed.
佐々木 宏和*; 西久保 英郎*; 西田 真輔*; 山崎 悟志*; 中崎 竜介*; 磯松 岳己*; 湊 龍一郎*; 衣川 耕平*; 今村 明博*; 大友 晋哉*; et al.
古河電工時報, (138), p.2 - 10, 2019/02
電子顕微鏡や放射光等の先端解析技術は、試料の構造や化学状態について多くの有用な情報をもたらし、材料研究に欠かせないツールとなっている。本稿では、これらの先端解析技術の中から、電子線ホログラフィや放射光を用いたX線小角散乱法(SAXS)等の手法を中心に、材料研究への応用事例を紹介する。これらの手法を活用することにより、未知であった材料の本質を明らかにすることができ、新製品開発の指針を定める上で重要な知見を得ることができる。