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安居院 あかね; 海野 哲哉*; 松本 紗也加*; 鈴木 浩輔*; 櫻井 浩*
no journal, ,
本研究では、磁気コンプトン散乱実験によってTb
Co
合金膜、Tb
Fe
(O
)合金膜のSSHMを測定し、スピン・軌道,元素別に磁化曲線を見積もることを試みた。試料は、Tb+Coチップをターゲットに用いて高周波スパッタ装置でAl基板上に作製した。この試料のマクロな磁化はSQUIDで測定した。磁気コンプトン散乱測定は、AR-NE1A及びSPring-8-BL08Wにて行った。解析の結果、スピンと軌道の磁化曲線は形状が異なることがわかった。