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吉川 正人; 瀬口 忠男; 吉田 健三
EIM-83-121, p.55 - 64, 1983/00
高分子絶縁材料が
線と高温飽和水蒸気に曝されたとき、絶縁抵抗がどのように変化するかをしらべた。試料は実用配合およびモデル配合のエチレンプロピレンゴムを用いた。線照射は放射線照射条件が絶縁抵抗にあたえる影響に注目し、酸素加圧下と真空中で行なった。酸素加圧下照射試料は、線量に対し体積抵抗率の対数値が直線的に低下した。照射後の水蒸気曝露では温度が低温の時は、線量によらず体積抵抗率が回復するが、高温になると線量の多い試料は体積抵抗率が回復しなくなり、低下するようになった。一方、真空中照射試料は線量の増加に対しても体積抵抗率の変化は少なく、その後の水蒸気曝露の影響もきわめて小さかった。