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及び即発中性子寿命lの評価山下 清信; 新藤 隆一; 村田 勲; 中田 哲夫*
JAERI-M 89-198, 42 Pages, 1989/12
本報は、高温工学試験研究炉(HTTR)の実効遅発中性子生成率及び即発中性子寿命の評価の方法及び結果についてまとめたものである。本評価では、実効遅発中性子生成率及び即発中性子寿命の値の燃焼に伴う変化及び出力変化に伴う変化を評価し、更に評価値の誤差についても評価した。燃焼に伴う実効遅発中性子生成率値の変化幅は0.0047~0.0065であり、また、即発中性子寿命値の変化幅は0.67~0.78msである。また、実効遅発中性子生成率及び即発中性子寿命の誤差は各々ほぼ10%以内に収まることが明かとなった。
神野 郁夫
JAERI-M 87-173, 102 Pages, 1987/10
核分裂片二重エネルギー二重速度(DEDV)測定しの新しいシステムが開発された。このシステムでは、核分裂片のエネルギーをシリコン表面障壁型半導体検出器(SSB)で測定し、薄膜シンチレーション検出器(TFD)をスタート検出器、SSBをストップ検出器とする飛行時間法で、速度を測定する。DEDV測定システムの開発にあたり、TFDおよびSSBについて、理論的・実験的研究がおこなわれた。TFDとSSBを用いたDEDV測定システムの時間分解能は133psであった。このシステムの応用として、
U熱中性子核分裂片についてDEDV測定をおこなった。解析結果の分裂片の運動エネルギーおよび中性子放出数は、他のデータと良い一致を示した。このDEDV測定システムを用いて、核分裂現象を詳細に研究することができる。
