検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年
検索結果: 3 件中 1件目~3件目を表示
  • 1

発表形式

Initialising ...

選択項目を絞り込む

掲載資料名

Initialising ...

発表会議名

Initialising ...

筆頭著者名

Initialising ...

キーワード

Initialising ...

使用言語

Initialising ...

発行年

Initialising ...

開催年

Initialising ...

選択した検索結果をダウンロード

報告書

動力炉核燃料開発事業団 東海事業所 標準分析作業法 放出管理編

桜井 直行; 飛田 和則; 吉崎 裕一; 宮河 直人; 山下 朋之; 柏崎 渉; 植頭 康裕

PNC-TN8520 93-003, 410 Pages, 1994/01

PNC-TN8520-93-003.pdf:15.53MB

東海事業所から環境へ放出される排水及び排気中に含まれる放射性物質、並びに排水中の公害規制物質の分析法及び測定法について、東海事業所標準分析作業法-放出管理編としてとりまとめたマニュアルである。本マニュアル(第4版)は、1984年4月に改訂作成(PNCT-N852-84-06)されたものを全面的に見直し改訂したものである。今後、さらに改訂する必要が生じた場合は適宜改訂し、本資料に追加あるいは差替えをするものとする。

報告書

HANDBOOK OF X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY

柏崎 渉*; 河村 和広

PNC-TN8510 92-006, 0 Pages, 1992/12

PNC-TN8510-92-006.pdf:6.85MB

表面分析の手法の1つとして光電子分光法(XPSあるいはESCA)がある。試料に軟X線を照射すると表面から数十A深さでオージェ電子と共に光電子が発生する。この光電子を分光して、含有元素の定性・定量分析及び化学結合状想の分析を行うことができる。このESCAの分析資料として下記のハンドブックが出版されている。資料名(1979)HANDBOOK OF X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY・箸者C.D.Wagner,W.M.Riggs,L.E.Davis,J.F.Maulder,G.E.Muilenberg・出版元 Perkin-Elmer Corporation Physical Electronics Divisionこの資料の内容には理論的基礎から具体的分析例まで含有されており、分析担当者がデータを解析する際に非常に役立つ。今回の和訳によって関係部門で多いに利用されることを期待する。

報告書

HANDBOOK OF AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY

河村 和広; 柏崎 渉*

PNC-TN8510 92-005, 0 Pages, 1992/12

PNC-TN8510-92-005.pdf:2.06MB

表面分析の手法の1つとしてオージェ電子分光法(AES)がある。試料に軟X線を照射すると表面から数十A深さでオージェ電子が発生する。この元素固有のオージェ電子をエネルギー選別して、含有元素の定性・定量分析に利用する。このAES分析資料として下記のハンドブックが出版されている。・資料名(1978,第2版)HANDBOOK OF AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY・著者Lawrence E.Davis,Noel C.Macdonald,Paul W.Palmberg,Gerald E.Riach,Roland E.Weber・出版元Perkin-Elmer Corporation Physical Electronics Divisionこの資料の内容には理論的基礎から具体的分析例まで含有されており、分析担当者がデータを解析する際には非常に役立つ。今回の和訳によって関係部門で多いに利用されることを期待する。

3 件中 1件目~3件目を表示
  • 1