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J.R.Dumais*; 吉澤 道夫; 山口 恭弘
JAERI-Tech 98-005, 65 Pages, 1998/03
原研・放射線標準施設棟には、中性子線量測定用の個人線量計やサーベイメータを校正するためのRI中性子源を用いた速中性子校正場が整備されている。この速中性子校正場には、線源カプセル、スタンド、空気及び壁等からの散乱線が含まれており、線量計の校正に影響を及ぼす可能性がある。そこで、MCNP-A4モンテカルロコードを用いた計算により、各散乱成分の割合及び中性子エネルギースペクトルの評価を行った。さらに、ボナー球検出器を用いた実験により中性子エネルギースペクトルを求め、これに基づき計算結果の補正を行った。その結果、線源から100cmにおける散乱線の混入割合は、中性子フルエンスについてCfで23%、Am-Beで19%であった。これらを線量当量に換算すると、Cfで13~14%、Am-Beで8~10%であることが明らかになった。
J.R.Dumais*; 吉澤 道夫; 山口 恭弘
JAERI-Tech 97-033, 35 Pages, 1997/07
原研の放射線標準施設等に設置されている黒鉛パイル熱中性子校正場に関して、混入する中速及び速中性子成分が個人線量計等の校正値に与える影響を計算で評価した。連続エネルギーモンテカルロコードMCNP-4Aを用いて、校正場の中性子スペクトルを計算し、中速及び速中性子成分の影響を解析した。その結果、黒鉛パイル外の照射場において、中速及び速中性子成分が熱中性子成分に及ぼす影響はフルエンスで2%、線量当量に換算すると10~14%であることが分かった。また、速中性子領域に感度を有する線量計を校正する場合は、中速及び速中性子成分の影響を十分考慮する必要があるが、熱中性子測定用の線量計をファントム上で校正する場合には、この成分の影響は無視できることも明らかになった。