Density measurements of liquid under high pressure and high temperature

片山 芳則; 辻 和彦*; 下村 理; 亀掛川 卓美*; M.Mezouar*; D.Martinez-Garcia*; J.M.Besson*; D.Haeusermann*; M.Hanfland*

Journal of Synchrotron Radiation, 5(Part3), p.1023 - 1025, 1998/00

放射光を用いたX線吸収法による高温高圧下での新しい密度測定法を開発した。この方法をパリ-エディンバラ型大容量プレスに適用し、それをESRFの高強度かつ高エネルギーのX線と組合せて実験を行った。高圧下での試料の変形の効果を除くため、ルビー製の円筒容器を試料容器として用いた。密度は透過X線の試料位置依存性(吸収プロファイル)を測定することによって求められた。結晶及び液体Biの密度を、この方法を用いることによって1GPa、750Kまで測定することに成功した。測定点のばらつきは過去の高エネルギー物理学研究所、放射光実験施設での実験に比較して小さかった。これはESRFでX線の強度が強いこと、プレス位置の精度が高いことによると考えられる。