Incident energy and polarization-dependent resonant inelastic X-ray scattering study of LaCuO

Lu, L.*; Hancock, J. N.*; Chabot-Couture, G.*; 石井 賢司; Vajk, O. P.*; Yu, G.*; 水木 純一郎; Casa, D.*; Gog, T.*; Greven, M.*

Physical Review B, 74(22), p.224509_1 - 224509_9, 2006/12

https://doi.org/10.1103/PhysRevB.74.224509

モット絶縁体であるLaCuOについて、1-7eVのエネルギー損失領域に渡って測定した銅のK吸収端での共鳴非弾性X線散乱(RIXS)の研究について報告する。高温超伝導体HgBaCuOで最初に見つかったように、入射エネルギーに対して散乱断面積が細かく変わることを利用して、RIXSスペクトルには分散の小さい幾つかの電子正孔対励起があることを示すことができた。励起の詳細な構造がCuO面に垂直な偏光と平行な偏光で類似していることから、励起には正孔が中心的な役割を果たしていることがわかる。一方で、2eV付近に現れる励起強度については偏光依存性があることから、異なる電荷移動プロセスと考えられる2つの励起が存在することがわかった。この偏光依存性は、RIXSのプロセスにおいて電子も何らかの役割を果たしていることを示唆している。