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村松 康司; 上野 祐子*; 佐々木 貞吉; Gullikson, E. M.*; Perera, R. C. C.*
Journal of Synchrotron Radiation, 8(2), p.369 - 371, 2002/03
被引用回数：2 パーセンタイル：20.28(Instruments & Instrumentation)新しい分光測定手法の開拓を目指し、モニターするX線の発光過程を識別した蛍光収量X線吸収スペクトル測定を試みた。分光測定はAdvanced Light Sourceの回折格子軟X線発光分光装置を用いて行い、位置敏感型検出器のウインド幅を各発光過程のX線スペクトル幅にあわせて調整することにより発光過程を識別した吸収スペクトルを得た。具体的には、グラファイトとh-BNにおける共鳴弾性X線と蛍光X線を区別した吸収スペクトルと、NiOのNiL吸収端においてL
線とL
線を区別した吸収スペクトルを測定した。これにより、発光過程識別X線吸収分光法によって内殻励起における発光励起緩和過程及び電子構造に関する情報が得られることを示した。
村松 康司; 広野 滋*; 梅村 茂*; 上野 祐子*; 林 孝好*; Grush, M. M.*; Gullikson, E. M.*; Perera, R. C. C.*
Carbon, 39(9), p.1403 - 1407, 2001/06
被引用回数：18 パーセンタイル：58.33(Chemistry, Physical)電子デバイスなどの超硬質表面保護膜として注目されているスパッタカーボン膜の膜質向上・制御を目指し、分子レベルでの化学結合情報を取得することとその局所構造を解明するため、系統的に条件を変化させて成膜したスパッタカーボン膜のCKX線発光吸収スペクトルを測定した。分光測定はAdvanced Light Sourceにおいて行った。その結果、従来のEELSでは識別できなかった微細構造を吸収スペクトルにおいて観測するとともに、発光スペクトルにおけるショルダーピーク強度と吸収スペクトルにおける微細構造ピークの相対強度比が成膜条件に依存することを見いだした。得られたX線スペクトルをDV-X分子軌道計算法により解析した結果、これらのスペクトル形状はsp
炭素原子とsp
炭素原子の結合の組み合わせによって定性的に説明できた。
村松 康司; 上野 祐子*; 石渡 洋一*; 江口 律子*; 渡辺 正満*; Shin, S.*; Perera, R. C. C.*
Carbon, 39(9), p.1359 - 1402, 2001/06
環境汚染物質の吸着除去剤や環境触媒などとして注目されている多孔質カーボンにおいて、孔内部の化学反応特性に強く影響を及ぼすと考えられる酸素の化学結合状態を解明するため、多孔質カーボンのOKX線発光吸収スペクトルを測定した。分光測定はAdvanced Light Sourceの回折格子軟X線発光分光装置を用いて行った。その結果、従来の分光手法では直接検出が困難であった孔内部の酸素を軟X線発光吸収分光法によって容易に直接検出できることを示した。さらに、得られたX線スペクトルをDV-X分子軌道計算法により解析した結果、多孔質カーボン中の酸素は従来の熱脱離法で予測されていた-OH,-CHO,-COOHなどの置換基状態では十分に説明できないことがわかった。
村松 康司; 渡辺 正満*; 上野 祐子*; Shin, S.*; Perera, R. C. C.*
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 114-116, p.301 - 305, 2001/03
被引用回数：1 パーセンタイル：4.84(Spectroscopy)多孔質カーボンにおいて、孔内部の吸着特性に強く影響を及ぼすと考えられる酸素の表面化学状態を解明するため、多孔質カーボンといくつかの参照化合物のOK X線発光スペクトルを測定した。分光測定は放射光を励起線とする回折格子軟X線発光分光装置を用いて行った。その結果従来の分光手法では直接検出が困難だった孔表面の酸素を本法により容易に検出できることがわかった。また参照試料の発光スペクトル形状との類似性も観測され、分子軌道計算によるスペクトル解析から、多孔質カーボンの孔表面の酸素は主としてカルボニル基が主成分であることが推察された。
村松 康司; 竹中 久貴*; 上野 祐子*; Gullikson, E. M.*; Perera, R. C. C.*
Applied Physics Letters, 77(17), p.2653 - 2655, 2000/10
被引用回数：13 パーセンタイル：51.49(Physics, Applied)高輝度放射光に代表される大強度軟X線の分光・集光素子として不可欠な耐熱性多層膜ミラーの開発に資することを目的として、耐熱特性を支配する化合物バリア層の化学結合状態を解明するため、Mo/SiC/Si多層膜におけるシリコンカーバイド層のCKX線発光吸収スペクトルを測定した。分光測定はAdvanced Light Sourceにおいて行った。得られたX線スペクトルをDV-X分子軌道法により解析した結果、このシリコンカーバイド層はh-またはc-SiCの基本構造において一部のシリコン原子を炭素原子で置き換えた炭素過剰な状態にあることが示唆された。併せて、多層膜における化合物層の非破壊状態分析に軟X線発光吸収分光法が有効であることを示した。
羽田野 祐子*; 羽田野 直光*; 天野 光; 上野 隆; Sukhoruchkin, A. K.*; S.V.Kazakov*
Atmospheric Environment, 32(14-15), p.2587 - 2594, 1998/00
被引用回数：14 パーセンタイル：39.4(Environmental Sciences)大気中エアロゾルの拡散に対する新しいモデルを提唱した。このモデルは風によるエアロゾルの拡散と再浮遊、および重力による沈降を考慮にいれた移流方程式で表されている。風速の時間ゆらぎがフラクタル的相関を持っていることが大きな特徴である。このモデルをもとにして、チェルノブイル事故炉周辺数十km範囲内での大気中の放射性核種濃度の長期的時間変化を予測できる。モデルによる予測は、過去10年間にわたる大気中濃度についての
Cs等の実測値と非常に良い一致を示している。
