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永目 諭一郎; 西中 一朗; Zhao, Y. L.*; 塚田 和明; 市川 進一; 池添 博; 谷川 勝至*; 大槻 勤*; 大浦 泰嗣*; 末木 啓介*; et al.
Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry, 239(1), p.97 - 101, 1999/00
被引用回数：4 パーセンタイル：34.81(Chemistry, Analytical)アクチノイドの核分裂において、核分裂障壁近傍から分裂直前の切断点に至るまで、二種類の独立した変形径路の存在を実証し、それぞれの変形過程と質量分割モードとの関連を明らかにした。この成果を中心に、これまでの二重モード核分裂過程に関するレビューを行う。また核分裂核の陽子数、中性子数と二重モード過程との関連に関する最近の成果についても述べる。
永目 諭一郎; 西中 一朗; 塚田 和明; 市川 進一; 池添 博; Y.L.Zhao*; 大浦 泰嗣*; 末木 啓介*; 中原 弘道*; 谷川 勝至*; et al.
Radiochimica Acta, 78, p.3 - 10, 1997/00
ウラン、トリウムなどの軽アクチノイド核の低エネルギー核分裂において、しきい値近傍から分裂点に至るまで、少なくとも二つの独立した変形径路の存在を初めて実験的に検証した。またそれぞれの変形過程と対称、非対称質量分割モードとの関連を明らかにした。
のX線照射効果; 熱励起電流測定西畑 保雄; 中西 悠介*; 阪上 潔*
no journal, ,
量子常誘電体KTaOにX線を照射すると、低温において誘電率の異常が観察されることをこれまで報告してきた。試料はX線が照射された情報を記憶しており、誘電率の実部および虚部に履歴が観察される(メモリー効果)。紫外光による誘電異常も報告されているが、X線のようなメモリー効果は観察されていない。我々は誘電率の緩和時間の変化は、X線によるある種の格子欠陥の生成とネットワークの形成が原因ではないかと考え、格子欠陥のエネルギー準位を評価することを試みた。試料を2.5Kまで冷却し、X線を2時間照射した後に昇温しながら熱励起電流を測定すると、6, 27, 38Kでピークが観察された。それぞれのピークに対応した不純物準位の深さは0.002, 0.020, 0.031eVと評価された。この浅いレベルは効率的に光電子を励起することを可能にし、誘電率の異常をもたらしていると考えられる。
