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論文

$$omega N$$ scattering length from $$omega$$ photoproduction on the proton near the reaction threshold

石川 貴嗣*; 藤村 寿子*; 深澤 宏司*; 橋本 亮*; He, Q.*; 本多 佑記*; 保坂 淳; 岩田 高広*; 甲斐田 俊*; 笠木 治郎太*; et al.

Physical Review C, 101(5), p.052201_1 - 052201_6, 2020/05

Photoproduction of the omega meson on the proton has been experimentally studied near the threshold. The total cross sections are determined at incident energies ranging from 1.09 to 1.15 GeV. The 1/2 and 3/2 spin-averaged scattering length $$a$$$$_{omega p}$$ and effective range $$r$$$$_{omega p}$$ between the CO meson and proton are estimated from the shape of the total cross section as a function of the incident photon energy: $$a$$$$_{omega p}$$ = (-0.97 $$_{rm -0.16stat-0.00syst}^{rm +0.16stat+0.03syst}$$ + $$i$$(0.07 $$_{rm -0.14stat-0.09syst}^{rm +0.15stat+0.17syst}$$) fm and $$r$$$$_{omega p}$$ = (+2.78 $$_{rm -0.54stat-0.12syst}^{rm +0.67stat+0.11syst}$$) + $$i$$(-0.01 $$_{rm -0.50stat-0.00syst}^{rm +0.46stat+0.06syst}$$) fm, resulting in a repulsive force. The real and imaginary parts for $$a$$$$_{omega p}$$ and $$r$$$$_{omega p}$$ are determined separately for the first time. A small $$P$$-wave contribution does not affect the obtained values.

論文

Research of the radiation tolerance in space environment of general electronic devices

前田 高広*; 垣見 征孝*; 明石 健二*; 大島 武; 小野田 忍

Proceedings of 10th International Workshop on Radiation Effects on Semiconductor Devices for Space Applications (RASEDA-10) (Internet), p.27 - 28, 2012/12

In order to develop a small satellite, the general electronic (Commercial Of The Self: COTS) devices have to be used because of some severe restrictions of resource for installed components. For this reason, it is important to evaluate the reliability of COTS devices. Therefore, the various type of heavy ions have been irradiated to COTS devices. We have evaluated the probability of Single Event Effects (SEEs) in COTS devices. Finally we predicted the occurrence of SEEs when COTS devices are brought to orbit. As a result, we found that COTS devices tested here have enough reliability for the mission of our small satellite.

口頭

民生用電子部品の宇宙環境における耐放射線性の研究

前田 高広*; 垣見 征孝*; 佐々木 直樹*; 明石 健二*; 大島 武; 小野田 忍

no journal, , 

開発中の50cm級小型衛星(SOCRATES)で使用する予定の民生電子部品の耐放射線性を評価した。具体的な半導体素子は、SOCRATESに搭載予定のFET(トランジスタ), MPU(マイクロプロセッサ), MUX(マルチプレクサ)である。LET(線エネルギー付与)の異なる窒素,ネオン,アルゴン,クリプトンの4線種の重イオンをこれらの半導体素子に照射し、シングルイベント効果のLET依存性を調べた。LET依存性と軌道上での放射線量を考慮して、軌道上でのシングルイベント発生確率を求めた。評価の結果、FET, MPU, MUXは、シングルイベント発生確率が運用期間に対し低く、SOCRATESへの搭載にあたって十分な信頼性が確保できることがわかった。このように、放射線試験を実施することで、小型衛星開発に民生電子部品を利用することができ、リソースの制限を満たしつつ、衛星の信頼性を確保することができるようになった。

口頭

民生電子部品の宇宙環境における耐放射線性の研究

前田 高広*; 明石 健二*; 垣見 征孝*; 小野田 忍; 大島 武; 牧野 高紘

no journal, , 

民生電子部品(COTS)の宇宙環境における動作状況や劣化状況を把握するため、サイクロトロンからの高エネルギー重粒子線照射試験を行った。マイクロコントロールユニット(MCU), 電界効果トランジスタ(MOSFET), アナログ・デジタル(AD)コンバータ, デジタル・アナログ(DA)コンバータ, シリアル通信ドライバについて照射試験を行った。MCUのレジスタにおけるシングルイベントアップセット(SEU)以外は、発生確率が想定運用期間に対して小さいことが分かり、小型衛星で使用可能との結論を得た。MCUについては、リセット回路や冗長系等のシングルイベント対策を講ずる必要があるということも明らかとなった。

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